晶體電光效應(yīng)實(shí)驗儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗。
實(shí)驗內(nèi)容：
掌握電光調(diào)制的原理及方法。
觀察晶體的單晶干涉現(xiàn)象，以及由電光效應(yīng)引起晶體折射率變化而產(chǎn)生的雙晶干涉現(xiàn)象。
極值法測量晶體半波電壓，計算電光系數(shù)。
加載調(diào)制電壓觀察倍頻現(xiàn)象并測量晶體半波電壓。
模擬激光通信（需增配選購件）
特點(diǎn)：
連續(xù)可調(diào)的0~800V高壓直流電源及0~100V交流調(diào)制信號，確保觀察到多次倍頻現(xiàn)象。
三數(shù)字表分別顯示直流高壓、調(diào)制信號電壓和接收到的光電信號電壓。
電光晶體：LiNbO3
光源：半導(dǎo)體激光器，功率可調(diào)
可明顯觀察到晶體由單軸晶體變化到雙軸晶體的過程，以及由加載電壓變化引起的雙晶干渉的變化趨勢。
模擬通信實(shí)驗可直觀的體現(xiàn)電光調(diào)制的原理。
JCP6透鏡望遠(yuǎn)鏡顯微鏡綜合實(shí)驗儀透鏡望遠(yuǎn)鏡顯微鏡綜合實(shí)驗儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗。
通過對透鏡及其組合成的顯微鏡系統(tǒng)和望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)進(jìn)行成像實(shí)驗測量，可完成以下實(shí)驗：
通過二次成像法測量三種不同透鏡的焦距。
組合安裝伽利略和開普勒兩種結(jié)構(gòu)的望遠(yuǎn)鏡，熟悉望遠(yuǎn)鏡的基本原理，計算視場放大率。
組合安裝內(nèi)調(diào)焦望遠(yuǎn)鏡，熟悉望遠(yuǎn)鏡的內(nèi)調(diào)焦原理，計算視場放大率。
組合安裝顯微鏡，熟悉顯微鏡的基本原理，計算視場放大率。
JC99CCD微機(jī)精密測徑實(shí)驗儀
用具有5000像元的線陣CCD器件，每像元僅7微米，空間分辨率遠(yuǎn)高于面陣CCD，12位A/D量化，圖像細(xì)膩，分裂環(huán)的光強(qiáng)分布曲線與理論課內(nèi)容吻合，并顯示出更多的細(xì)節(jié)，無需人工干預(yù)修正,定圓心等額外處理，實(shí)驗精度≤2%，優(yōu)于面陣CCD方案。
JCP7光電池光電器件綜合實(shí)驗儀
光電池光電器件綜合實(shí)驗儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗儀的組成部分；也可以單獨(dú)做實(shí)驗。
可以對光電池，光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進(jìn)行測量，使學(xué)生對伏安特性，光強(qiáng)變化以及功率與電阻的關(guān)系等物理現(xiàn)象加深了解。
實(shí)驗內(nèi)容：
光電池的開路電壓測量，功率與電阻的關(guān)系，填充因子測量,光強(qiáng)變化與開路電壓之間的關(guān)系以及光電池在黑暗狀態(tài)下作二極管用的伏安特性測量。
光電阻的伏安特性測量，光強(qiáng)變化對光電阻的電壓影響。
光電二極管的伏安特性測量。
